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  • YP-150I/YP-250I山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置

    山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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  • YP-150I/YP-250IYAMADA高亮度鹵素光源用于檢測(cè)各種缺陷照明

    YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測(cè)各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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  • YP-150I/YP-250IYAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強(qiáng)度檢查燈進(jìn)口

    YAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強(qiáng)度檢查燈進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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  • YP-150I/YP-250I日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測(cè)

    日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測(cè) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。

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  • YP-150I/YP-250I日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進(jìn)口

    日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。

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  • YP-150I/YP-250I山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明

    山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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  • YP-150I/YP-250IYAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置檢查燈高亮度

    YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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  • YP-150I/YP-250I日本YAMADA山田光學(xué)高亮度光源裝置檢查燈

    日本YAMADA山田光學(xué)高亮度光源裝置檢查燈 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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