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薄膜研發用離線靜電容量式非接觸式測厚儀測量精度可達±0.01μm，能夠實現高重復性和高穩定性的測量。測量范圍廣：測量范圍為0-500μm，工作區間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測量需求。快速測量：測量速度為100ms/點，能夠快速完成測量，提高工作效率。
產品型號：TOF-C2廠商性質：經銷商更新時間：2025-10-21訪 問 量：53
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薄膜研發用離線靜電容量式非接觸式測厚儀
薄膜研發用離線靜電容量式非接觸式測厚儀
計測分解能が高い
非接觸式のため接觸式では計測が困難なフィルムに最適です
表面狀態が粗面でも計測可能です
坪量計測
簡単操作（自動誘電率設定機能付）
| 測定厚さ | ～500 μm |
|---|---|
| 測定長さ | 10～10000 mm |
| 測定ピッチ | 1 mm～ |
| 最小表示値 | 0.01 μm |
| 電源電圧 | AC100V 50/60Hz |
| 使用溫度範囲 | 5～40℃（測定時溫度変化1℃以內） |
| 濕度 | 35～80％（結露無きこと） |
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