日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置

日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04

可以在短時間內分析數十萬個顆粒，消除了用顯微鏡檢查的麻煩。
通過目視檢查顆粒圖像，可以直接檢查其是初級顆粒還是聚集顆粒，以及數值。

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日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 特點介紹

可以在短時間內分析數十萬個顆粒，消除了用顯微鏡檢查的麻煩。

通過目視檢查顆粒圖像，可以直接檢查其是初級顆粒還是聚集顆粒，以及數值。

相機的分辨率得到了提高，可以更詳細地看到顆粒圖像，并且通過添加新的內置超聲波分散裝置，現在可以通過這個單一裝置執行從分散到測量的所有操作。

測量時實時顯示顆粒的流動狀態，并顯示分散狀態和最大顆粒，讓您一目了然。您不僅可以使用形狀和大小等參數繪制散點圖，并根據需要更改參數來重新繪制散點圖，而且只需移動光標即可顯示該位置的粒子圖像和分析結果。

PITA-04可以在最佳的顆粒成像環境中進行顆粒圖像分析處理，包括我們為獲得清晰的顆粒圖像而開發的平面膨脹單元以及采用最新的光學系統。

日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 規格參數

超聲波分散罐標準設備

載液罐內置于主體中

測量時間縮短相機幀速率大約增加一倍

自動清洗功能標準化

與有機溶劑兼容

豐富的軟件輔助功能，即使是初次使用的用戶也能輕松進行測量

分析項目個數粒徑分布、體積/面積當量粒徑分布、平均粒徑、最大粒徑、最小粒徑、中值粒徑

測量項目當量圓直徑、圓度、長徑比、長軸、短軸、周長、包絡周長、閉孔曲線面積、不平度

顯示項目顆粒圖像、散點圖、粒度分布圖、裂紋和碎片數、分散度、測量/分析項目明細表、單顆粒測量結果

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